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ADI微機電加速度計實現結構缺陷的早期偵測

台灣台北2016年10月4日電/美通社/--AnalogDevices,Inc.(ADI)亞德諾半導體公司宣布一款三軸微機電(MEMS)加速度計，以極低雜訊進行高解析度振動測量，實現經由無線感測器網路的早期結構缺陷偵測。新的ADXL354和ADXL355加速度計的低功耗，延長了電池壽命，並藉由減少更換電...
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